通過掃描電鏡（SEM）改進增材制造加工工藝
增材制造中，產品的質量控制以及檢測產品表面缺陷是至關重要的。但是，作為增材制造商，希望能夠在不占用太多時間的情況下改善 AM 流程。 Additive Industries 是世界上第一家用于工業金屬增材制造系統的專用設備制造商，面臨同樣的挑戰 。 他們設法解決這個障礙，并利用飛納臺式掃描電鏡來提高質量控制。
掃描電鏡（SEM）檢測表面缺陷
目前，AM 廠商使用掃描電鏡（SEM）作為產品的表征技術。 掃描電鏡（SEM）可以提供高分辨率圖像，用戶可以仔細檢查 AM 工藝生產組件的表面質量。掃描電鏡（SEM）的使用可以幫助揭示產品的表面缺陷，這些缺陷往往影響著產品的機械性和耐久性。
對于某些材料，如鈦合金，與傳統的制造工藝相比，利用 AM 制造出具有相同性能的密集部件是非常具有挑戰性的。而掃描電鏡（SEM）恰好是 AM 最終產品檢測中非常有用的表征技術。
掃描電鏡（SEM）分析增材制造粉末
然而，掃描電鏡（SEM）不僅幫助檢測最終產品，也可以對 AM 工藝中使用的原材料進行表征。增材制造主要是基于粉末的技術，包括燒結各種各樣的粉末。增材制造的實質是通過計算機輔助設計軟件（如CAD），將某種特定的加工樣式生成一個數字化的模型文件，然后按照模型圖用各類金屬粉末或塑料、陶瓷和復合材料等可塑性高的物質進行加工。
如果我們把更多的關注放在正在使用的金屬粉末上，將會看到許多金屬已經用于增材制造工藝。不銹鋼、鈷、鎳、鈦、鋁、鐵和鋁銅基合金已被使用，并且種類一直在增加。
AM 廠商對金屬粉末的許多特性都非常關注。 尺寸（在 1 到幾百微米的范圍內）是一個能夠確保顆粒均勻分布的非常重要的性質，這將影響產品的性能和其潛在應用。形狀 （球形顆粒是最好的）影響顆粒的填充、流動涂覆能力。孔隙度，影響了材料的機械強度。
在大多數情況下，需要仔細檢查粉末的上述特性，并且需要高度均勻的分布。
掃描電鏡（SEM）和顆粒表征
如上所述，掃描電鏡（SEM）對 AM 工藝制造的產品的表面進行成像和表征。 另外，對于粉末材料的表征，可以使用專用軟件，例如由 飛納電鏡開發的顆粒統計分析測量系統（ParticleMetric）。
圖1： ParticleMetric 軟件的屏幕截圖。左側顯示掃描電鏡（SEM）中檢測到的顆粒。右側顯示檢測結果，它們的性質和生成具有顆粒屬性的圖形。
該軟件可以自動檢測掃描電鏡樣品上存在的顆粒，并通過測量幾種最重要的物理性質，如尺寸，形狀，圓度，長徑比等來準確表征它們。這些物理數值需要檢查和分析大量顆粒，因此這些自動執行的表征過程就顯得非常重要，可以有效提高測試者的工作效率。
另外，掃描電鏡（SEM）可以通過使用所配備的能量色散 X 射線光譜儀（EDX）檢測粉末材料的化學特性（ 您可以在這里閱讀更多關于 EDX 的技術）。將掃描電鏡（SEM）的 EDX 探頭應用于 AM 工藝中，操作員可以準確檢測和量化樣品中存在的元素。
顯而易見，掃描電鏡（SEM）可以完全覆蓋用于 AM 工藝的產品和材料的表征要求：使用掃描電鏡（SEM）成像檢查產品表面，用專門的顆粒統計分析系統來測量粉末材料的物理特性，使用 EDX 技術來檢測和量化它們的組成元素。
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